Система метрологии поверхности FRT MicroProf MPR 1250

Описание

Исследования и технологии картофеля фри
Название устройства: FRT MicroProf® MPR 1250
FRT MicroProf® MPR 1250 — это высокоточная система измерения поверхности.
Серия MicroProf® от Fries Research & Technology GmbH (FRT).
Эти системы предназначены для неразрушающего и бесконтактного анализа
Параметры поверхности, такие как топография, шероховатость, толщина слоя и многое другое.
Особенности FRT MicroProf:
Режимы измерения:
Устройство работает как 2D-оптический профилометр и как система 3D-визуализации.
Используется метод сканирования или датчик прямого изображения.
Rsc R Ncjwh Swdj Ifnjw
Диапазон измерения:
Диапазон высоты: до 3 мм, в зависимости от используемого датчика.
Латеральное разрешение: обычно 1–2 мкм, в зависимости от конфигурации датчика.
Технические характеристики
Модульная многосенсорная конструкция: позволяет комбинировать различные датчики
для различных измерительных задач.
Высокое разрешение: обеспечивает измерения с точностью до нанометра.
Гибкость: Может использоваться для различных приложений в полупроводниковой промышленности, микросистемной технике,
оптика, автомобилестроение и фотоэлектричество.
Автоматизация: поддерживает полностью автоматизированные измерения для высокой производительности.
Области применения
MicroProf® MPR 1250 используется в различных отраслях промышленности, в том числе:
Полупроводниковая промышленность: для анализа пластин и микросхем.
Микросистемная техника (МЭМС): для исследования микроструктур.
Оптика: Для измерения поверхностей в оптических компонентах.
Автомобильная промышленность: для проверки допусков компонентов.
Фотоэлектричество: для анализа солнечных модулей.
Вес прибл. 500 кг
Состояние: б/у
Объем поставки: (см. рисунок)
(Возможны изменения и ошибки в технических данных!)
Мы будем рады ответить на любые ваши дополнительные вопросы по телефону.