Сканирующий электронный микроскоп (PC-SEM) Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor

Описание

Предлагаем вашему вниманию сканирующий электронный микроскоп Jeol.

Сканирующий электронный микроскоп Jeol JSM-6490 (PC-SEM)

Dwoc Ed Ddemn Rcqocob
Современный цифровой сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения
с недавно разработанной электронной оптикой и интуитивно понятным
графическим интерфейсом пользователя (GUI) под управлением Microsoft WindowsXP Professional.

Диапазон увеличения: 5 X - 300 000 X
Ускоряющее напряжение 0,3 - 30 кВ
Вольфрамовый катод со шпильками (катод LaB6 опционально)
большой, полностью моторизованный штатив для образцов с эксцентриком
наклоном, вкл.
Графическая навигация на держателе образца
Простая навигация по образцу с помощью центрального зума
Навигация по полю изображения с помощью 2 навигаторов
Навигация по относительным координатам
Сохранение и перезапуск позиции образца
Регулируемое перемещение столика с образцами
Коррекция поля при вращении с помощью управляемого компьютером эвцентрического вращения
эксцентрическое вращение
Коррекция поля изображения при наклоне с помощью компьютерного управления
управляемый эвцентрический наклон
Расчет возможного угла наклона на основе
геометрия образца
автоматическое слежение за фокусом при перемещении образца в
образец по оси Z
Интеллектуальные концевые выключатели для моторизованных осей

Ход ступени для образца:
x=125мм
Y=100 мм
z= 5 - 80 мм (непрерывно)
T= от -10°C до + 90°C
R= 360°C (бесконечно)
Детектор вторичных электронов для работы в высоком вакууме
Новая сверхконическая объективная линза гарантирует высочайшее разрешение изображения
разрешение даже при больших углах наклона
Гарантированное разрешение в SE изображении: 3 нм при 30 кВ и
15 нм при 1 кВ
Одновременное отображение изображений нескольких детекторов в реальном времени
Удобная навигация по образцу с помощью функции Cllck Centre Zoom
Мощные функции измерения изображения
Функция видеосъемки для записи динамических процессов
Универсальная камера для образцов с многочисленными
свободными фланцами, например, для EDX, WDX,
EBSD, катодолюминесценции и т.д.
Малообслуживаемая и малоизнашиваемая, бесшумная насосная система
состоящая из подкачивающего насоса, не подверженного вибрации высокоэластичного диффузионного насоса
и электромагнитного управления клапаном
Обширная защита от ошибок при неправильной работе
и выхода из строя внешних сред
Эргономичный, регулируемый по высоте системный стол
Стартовый комплект REM, состоящий из 2 держателей образцов,
набор инструментов и 6 запасных катодов

Дополнительное оборудование

2x ΜΡ-43100 (TMP)

Турбомолекулярный насос
вместо стандартного диффузионного насоса
При использовании турбомолекулярного насоса охлаждающая вода больше не
для работы РЭМ больше не требуется охлаждающая вода.

Дополнительное оборудование:

ПК для управления РЭМ
вкл. TFT-монитор

ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX система EXTENDED

Система энергодисперсионного рентгеновского анализа без азота.
вкл:

SDD-детектор с энергетическим разрешением 127 эВ или лучше.
Обнаружение всех элементов, начиная с бора
Без вибрации, не требует технического обслуживания. Охлаждение Пельтье (без азота)
Импульсный процессор
TFT монитор
Измерение спектра и элементное разложение
Полностью автоматический, количественный, свободный от стандартов
элементный анализ
Получение изображений
Сверхбыстрый качественный LIneScan
Сверхбыстрое качественное картирование элементов
Система управления данными и архивирования
Формирование отчетов и вывод результатов
Передача данных
Установка и обучение
HyperMap
Многоточечный анализ

Bruker xFlash Detect