Рентгеновский дифрактометр (XRD)
Рентгеновский дифрактометр (XRD) PANalytical X’Pert PRO MPD
Состояние
б/у
Отправить сообщение
Описание
PANalyticalPANalytical X’Pert PRO MPD рентгеновский дифрактометр (XRD)
Выписка из сервисного отчета:
Прибор: PANalytical X’Pert PRO MPD
Составлен: 07.07.2021
Выполненные работы:
- Установка и ввод системы в эксплуатацию
- Подключение внешних коммуникаций
- Фаза прогрева
- Полная юстировка гониометра и других компонентов
- Проведение технического обслуживания, включая замену дефектных деталей
Использованные запасные части:
L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 аккумулятор Ni-Cd
Вентилятор для блока X-Celerator
Фильтр для воды
Двигатель PW3050
(«Прибор не был протестирован в нашей лаборатории»)
X’Pert PRO MPD – это универсальный и высокопроизводительный рентгеновский дифрактометр (XRD) для структурной характеристики кристаллических материалов — идеально подходит как для фундаментальных исследований, так и для рутинных промышленных и университетских приложений. Благодаря модульной конструкции, быстрой регистрации данных, контролю температуры и атмосферы он одинаково эффективен для рутинного анализа и сложных in-situ экспериментов.
Основные особенности:
Возможность различных геометрий измерения:
- Отражение в режиме Брагга-Брентано (θ–2θ)
- Трансмиссионная геометрия для порошков в капиллярах
- Дополнительно SAXS (рассеяние рентгеновских лучей под малыми углами) для наноструктур
Источники излучения и детекторы:
- Чаще всего медный анод (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å)
- Детектор X’Celerator (1D, ультрабыстрый) для параллельного сбора данных
Модульная система с технологией PreFIX:
- Быстрая смена оптики и держателей образцов без необходимости перекалибровки
In-situ измерения при высоких температурах:
- Измерения до примерно 1200°C
- Контролируемая атмосфера: воздух, азот, кислород (окраниченно восстановительная)
Типичные применения:
- Фазовый анализ и количественная ритвельд-анализ
- Определение размера кристаллитов, микродеформаций, собственных напряжений
- In-situ исследование фазовых переходов, окисления, кристаллизации и др.
- SAXS-измерения для анализа наночастиц, пористых структур
- Широкий спектр образцов: порошки, тонкие пленки, керамика, фармацевтика, катализаторы и др.
Технические характеристики (типовые):
Параметр / спецификация
Диапазон углов (2θ): примерно 0,5°–150°
Шаг измерения: до 0,002° и тоньше
Гониометр: вертикальный, 0–0, радиус около 240 мм
Диапазон температур: от комнатной до примерно 1200°C
Атмосфера: воздух, N₂, O₂ (ограниченно восстановительная)
Детекторы: X’Celerator (1D), счетчики пропорционального типа
Hfjc Edswycate Ddcsl
Распространение и примеры использования:
X’Pert PRO MPD эксплуатируется по всему миру, например:
Университеты (ETH Цюрих, ТУ Дрезден, Венский университет)
Научно-исследовательские институты (например, Институт Макса Планка, ICN2, IS2M)
Промышленность (разработка материалов, фармацевтика, химия)
Состояние: б/у
Комплект поставки: (см. фото)
(Возможны изменения и ошибки в технических данных! Все данные без гарантий!)
По всем вопросам звоните – мы с радостью ответим.
