прибор для измерения толщины покрытия Helmut Fischer XDL 240

Описание

Хельмут Фишер
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 240
Рентгенофлуоресцентный прибор для измерения толщины покрытий и элементного анализа
Описание:
Продаётся FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 240 — высокоточный рентгенофлуоресцентный анализатор (XRF), предназначенный для измерения толщины покрытий на различных материалах, а также для проведения элементного анализа. Данное устройство обеспечивает одновременный анализ до 24 элементов и подходит как для сверхтонких покрытий, так и для анализа жидких образцов, например, гальванических ванн. XDL® 240 особенно хорошо подходит для контроля качества и анализа материалов в промышленных производственных процессах.
Технические характеристики:
- Вольфрамовая рентгеновская трубка с бериллиевым окном для точных измерений до 50 кВ.
- Коллимационная щель: диаметр 0,3 мм для прецизионной фокусировки на измеряемой точке.
- Пропорциональный детектор: обеспечивает высокую чувствительность и большой диапазон считывания, что ведёт к отличному поглощению фотонов.
- Элементный анализ: исследование элементов от титана (22) до урана (92).
- Измерение толщины покрытия: идеально подходит для измерения сверхтонких покрытий и контроля качества при массовом производстве.
- Система защиты: IP40 — устройство прочное и подходит для использования в сложных производственных условиях.
Дополнительная информация:
В комплекте поставляется компьютер на базе Windows.
Идеально для анализа жидких образцов (гальванические ванны) и измерения тонких слоёв в производстве.
Программное обеспечение WinFTM версии 6.52 L
Габариты и вес:
Габариты: 57,0 x 76,0 x 65,0 см
Внутренние размеры: 46,0 x 49,5 см (максимальная высота образца зависит от конфигурации)
Питание:
Напряжение: 100 - 240 В~ (переменный ток)
Частота: 50 - 60 Гц
Потребляемая мощность: 180 ВА
Вес: 120 кг
Состояние: б/у
Комплектация: (см. фото)
(Изменения и ошибки в технических характеристиках и описании возможны!)
На все вопросы готовы ответить по телефону.
Hsc Ed Dsw Hxg Nedcefl