Система контроля поверхности
Система контроля поверхности Steinbichler ABIS optimizer
Состояние
б/у
Отправить сообщение
Описание
Размеры (мм³): 670x80x100
Вес: 4,7 кг
Время получения изображения: 100 мсек.
Размер поля измерения: 220x300 мм²
Интерфейс передачи данных: GigE
Разрешение CCD камеры: 1200x1600 px
Предел разрешения 3d ошибки (глубина): 100 мкм (мин.) в зависимости от поверхности
Разрешение боковой погрешности: 1,5 мм в зависимости от поверхности
Nljc R Nc Iek E Nadjfnoc
Рабочее расстояние: 432 мм +/- 20 мм
Источник света: сине-светодиодный
